Normungsveranstaltungen

DKE  Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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DKE/UK 631.1 Einzel-Halbleiterbauelemente

Das DKE/UK 631.1 spiegelt die Arbeiten des IEC-Gremiums SC 47E "Discrete Semiconductor Devices", entsprechender CENELEC-Gremien und arbeitet in diesem SC und dessen Arbeitsgruppen mit.

Es ist somit zuständig für die Erarbeitung, Verabschiedung und Pflege von DIN-Normen und -Entwürfen sowie für die Übernahme anderer Normen, über die Herstellung, Prüfung, Anwendung oder Wiederverwertung von Einzel-Halbleiterbauelementen. Diese beinhalten Begriffe, Definitionen, Formelzeichen, Grenz- und Bemessungswerte sowie Messverfahren und Zuverlässigkeitsfragen.

Aktivitäten siehe Tätigkeitsbericht des DKE/K 631.

Ansprechpartner

Starke Teams im Dienst der Normung

Übergeordnetes Gremium

Halbleiterbauelemente

Spiegelgremien

CLC/SR 47E
Einzel-Halbleiterbauelemente
IEC/SC 47E
Einzel-Halbleiterbauelemente
IEC/SC 47E/WG 1
Harmonization of the existing ISO and IEC standards dealing with laser diodes
IEC/SC 47E/WG 2
Microwave devices
IEC/SC 47E/WG 3
Power devices
IEC/SC 47E/JWG 5
Harmonization of the existing ISO and IEC standards dealing with laser diodes
IEC/SC 47E/MT 6
Laser diodes, LEDs, PDs and APDs
IEC/SC 47E/WG 9
Laser diodes, LEDs, PDs and APDs
IEC/SC 47E/PT 60747-14-11
Semiconductor devices – Part 14-11: Semiconductor sensors – Test method of surface acoustic wave based integrated sensor for measuring ultra violet, illumination and temperature

Arbeitskreise

DKE/AK 631.1.1
Magnetische und kapazitive Koppler