DIN IEC/TS 62607-5-1 DIN SPEC 42607-5-1:2016-07

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Nanofertigung -

Schlüsselmerkmale - Teil 5-1: Dünnschicht-Elektronikbauelemente aus organischen Nanomaterialien - Messungen des Ladungsträgertransports (IEC/TS 62607-5-1:2014)

Kurzdarstellung

In diesem Teil der IEC 62607, der eine technische Spezifikation ist, wird eine standardisierte Probengeometrie für die Charakterisierung der Transporteigenschaften von organischen Nano-Dünnschicht-Bauelementestrukturen vorgeschlagen und das Format für die Prüfberichtstruktur und der Detaillierungsgrad vorgegeben. Die in dieser Norm beschriebene OTFT Teststruktur mit einer kontaktflächenlimitierten Dotierung kann die Kontaktwiderstandsprobleme abmildern und dadurch eine zuverlässige Messung der Ladungsträgerbeweglichkeit ermöglichen. Der Zweck dieser Norm ist, standardisierte Teststrukturen für die Bestimmung der Transporteigenschaften von Ladungsträgern in organischen Dünnschichtbauelementen zu definieren. Dabei werden sowohl die Anforderungen an belastbare Daten zum Ausgangsmaterial für die OTFTs definiert als auch Richtlinien für die Herstellung der Teststrukturen aufgestellt. Im Ergebnis werden damit der Forschung in Industrie und in akademischen Institutionen Informationen transparent und konsistent zur Verfügung gestellt.

Beziehungen

Enthält:

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03.09.2014 Aktuell
IEC TS 62607-5-1:2014-09
Nanofertigung – Schlüsselmerkmale - Teil 5-1: Dünnschicht-Elektronikbauelemente aus organischen Nanomaterialien - Messungen des Ladungsträgertransports

Entwurf war:

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01.03.2014 Historisch
E DIN IEC/TS 62607-5-1 DIN SPEC 42607-5-1:2014-03
Nanofertigung - Schlüsselmerkmale - Teil 5-1: Dünnschicht-Elektronikbauelemente aus organischen Nanomaterialien - Messungen des Ladungsträgertransports (IEC 113/183/CD:2013)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Vornorm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.07.2016
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Elena Rongen
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

v2v4r.854xv4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-429

Referatsassistenz
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