DIN EN 60512-6-3:2003-01

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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 6-3: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung - Prüfung 6c: Schocken (Einzelstöße);

Beziehungen

Ersatz für:

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01.05.1994 Historisch

DIN IEC 60512-4:1994-05

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen; Meß- und Prüfverfahren; Teil 4: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Identisch mit IEC 60512-4:1976

Enthält:

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19.04.2002 Aktuell

EN 60512-6-3:2002-04

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-3: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung - Prüfung 6c: Schocken (Einzelstöße)

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22.02.2002 Aktuell

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-3: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung - Prüfung 6c: Schocken (Einzelstöße) - Teil 6-3: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung - Prüfung 6c: Schocken (Einzelstöße)

Entwurf war:

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01.04.2000 Historisch

E DIN IEC 48B/837/CD:2000-04

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 6-3: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung - Prüfung 6c: Schocken (Einzelstöße) (IEC 48B/837/CD:1999)