EN 60749-10:2002-08

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 10: Mechanisches Schocken

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09.04.2002 Historisch
IEC 60749-10:2002-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken - Teil 10: Mechanisches Schocken

Entwurf war:

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11.01.2001 Historisch
prEN 60749-10:2001-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken

Ersetzt bzw. ergänzt:

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10.06.2022 Aktuell
EN IEC 60749-10:2022-06
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - eil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-10:2002-08

IEC 60749-10:2002-04
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
14.08.2002
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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