Arbeitsgebiet
Das DKE/K 682 ist zuständig für die Normung im Bereich der Montage- und Baugruppen-Technologie einschließlich der mechanischen Beschreibung von Bauteilen, Verfahren und Werkstoffen, dem automatisierten Entwurf, Technologien, die mit Bauteilen und Produktionsverfahren in Beziehung stehen, Methoden zur Konformitätsbewertung sowie Untersuchungen über die Anforderungen der in diesen Technologien tätigen Industrie unter besonderer Beachtung der Oberflächenmontagetechnik.
Tätigkeiten
Im Berichtzeitraum wurde durch engagierte aktive Zuarbeit der Experten des DKE/K 682 in wesentlichen Bereichen Einfluss auf die gegenwärtigen und zukünftigen Arbeiten des IEC/TC 91 genommen. Experten des DKE/K 682 wirken zudem in den Beratungen zu den Tests für ESD-Verpackungen für SMD-Bauteile maßgeblich mit. Neue Testverfahren werden diskutiert, da die bestehenden Messmethoden für die kleinen Verpackungseinheiten ungeeignet sind und die Messung mit der Zweipunkt-Methode große Unterschiede zu der Messung mit der Ringmethode aufweist. Die Diskussionen der direkten Messung auf den Verpackungsgurten sind noch nicht abgeschlossen.
Die neue Technologie Embedded Substrate entwickelt sich stetig. Die Normreihe IEC 62878 “Device embedded substrate“ enthält die ursprünglichen Teile der Normreihe IEC 62326 „Printed boards-Device“, soweit sie das Thema Embedded Substrate betreffen. Der zuständige DKE/AK 682.0.5 „Device Embedded Substrate“ ist das nationale Spiegelgremium zur IEC/TC 91 WG 6; ein neuer Schwerpunkt ist die Erarbeitung der Fachgrundspezifikation für Trägermaterial mit eingebetteten Bauteilen.
Der DKE/AK 682.0.3 “Whisker“ beschäftigt sich intensiv mit dem Thema Whisker. Ziel ist die Überarbeitung der IEC 60068-2-82: ”Environmental testing – Part 2-82: Tests – Test Tx: Whisker test methods for electronic and electric components”. Bei den Diskussionen zum aktuellen Stand der Whisker-Forschung und der Testmethoden sind neben den Experten des Gremiums auch zahlreiche weitere externe Experten aus Industrie und Forschung beteiligt.
Der DKE/AK 682.0.6 „Technische Sauberkeit“ hat als Thema die technische Sauberkeit in der Elektrotechnik, das ist die Notwendigkeit der Reinigung von Bauteilen und Baugruppen. Schmutz in der Fertigung ist Materie am falschen Ort. Gereinigte Bauteile und Baugruppen werden vor allem nachgefragt, wenn diese in sensible Bereiche eingebaut werden. Untersucht wird die Partikelverunreinigung, weitere Themen sind die Kontamination aufgrund von Adhäsion und die ionische Verunreinigung.
Das frühere IEC/TC 93 „Design automation” der IEC wurde aufgelöst, die bisherigen Aufgaben an das TC 91 übertragen. Im TC 91 wurden dafür die Arbeitsgruppen WG 12 “Design of printed boards and board assemblies”, WG 13 “ Design Automation: Component, Circuit and System, Description Languages”, WG 14 “Design Automation: Library of reusable Parts for Electrotechnical Products” und WG 15 “Design Automation: Testing of Electrotechnical Products” eingerichtet. Thema der WG 15 ist die Übernahme von IEEE-Standards, die als IEEE Dual Logo Standard bei IEC publiziert werden. Das K 682 spiegelt mit seinen Experten diese neuen Themen. Europäische Normen sind für diese Technologien nicht vorgesehen.
Experten des Gremiums sind an der Überarbeitung der AEC-Q200 Revision D: “Stress test qualification for passive components“ beteiligt. Ziel ist es, die AEC-Q200 unter Berücksichtigung der AEC-Q100: “Active components“ zu ändern.
Das DKE/K 684 „Prozess Management for Avionics“, nationales Spiegelgremium des gleichnamigen IEC/TC 107, wurde aufgelöst, die Aufgaben aus dem Arbeitsgebiet an das K 682 übertragen. Themengebiete sind Produktfälschung, Schädigung elektronischer Schaltkreise durch Höhenstrahlung, bleifreie Verbindungstechnik in Elektronikbaugruppen und als aktuelles Thema die Auswirkung starker Solarstürme und der Carrington-Effekt.
Das DKE/GUK 682.1 “Gedruckte Elektronik“, ein Gemeinschaftsunterkomitee mit dem DKE/K 141 “Nanotechnologie“, erarbeitet als Spiegelgremium zu IEC/TC 119 “Printed Electronics“ vor allem Prüf- und Messverfahren, um die Funktionstüchtigkeit und Haltbarkeit von gedruckter Elektronik nachweisen zu können. Die Arbeiten finden ausschließlich auf IEC-Ebene statt, Europäische Normen sind für diese Technologien nicht vorgesehen. Im Wesentlichen stehen Projekte an, die die Druckmaterialien spezifizieren, besondere Anforderungen im Druckprozess festlegen oder auch Qualitätsanforderungen an Komponenten aus gedruckter Elektronik, wie z. B. organische Leuchtdioden, Photovoltaikelemente oder Batterien spezifizieren.
Ausblick
Eine neue Liaison Coordination Group (JISSO) wurde auf internationaler Ebene unter deutscher Führung eingerichtet. Thema ist die Betrachtung der Aufbau- und Verbindungstechnik über die gesamte Wertschöpfungskette. Experten aus dem SC 47A, SC 47D, TC 71 und TC 40 arbeiten in dieser Gruppe zusammen, um Projekte entlang der gesamten Wertschöpfungskette zu betrachten.
Intensiviert wird die Zusammenarbeit mit dem NA 092-00-08 AA Arbeitsausschuss Weichlöten (DVS AG V 6.2), um Doppelnormung zu vermeiden und Synergieeffekte zu nutzen.
