Dieser Teil von IEC 60216 legt die versuchstechnischen Verfahren und die Verfahren zur Berechnung fest, die bei der Bestimmung der thermischen Langzeitkennwerte, Temperaturindex (TI) und relativer Temperaturindex (RTI) eines Elektroisolierstoffs unter Verwendung des „Festzeitrahmenverfahrens“ (FTFM) angewendet werden. Nach diesem Protokoll erfolgt die Alterung über eine kleine Anzahl festgelegter Zeitintervalle, wobei eine geeignete Anzahl von Alterungstemperaturen während jedes Intervalls angewandt wird. Die Eigenschaften der Probekörper werden am Ende des jeweiligen Intervalls gemessen. Dies weicht von dem in IEC 60216-1 verwendeten Verfahren ab, bei dem die Alterung bei einer kleinen Anzahl von festgelegten Temperaturen durchgeführt wird und die Ermittlung der Eigenschaftswerte nach Lagerungszeiten erfolgt, die von dem Fortschreiten der Alterung abhängen. Beide Langzeitkennwerte TI und RTI, die entsprechend dem FTFM-Protokoll ermittelt wurden, erhält man aus den Versuchsdaten, die in Übereinstimmung mit den Anweisungen in IEC 60216-1 und IEC 60216-2 und den in diesem Teil von IEC 60216 festgelegten Modifizierungen hierzu erzielt wurden. Die Berechnungsverfahren und die statistischen Tests wurden gegenüber denjenigen nach IEC 60216-3 und IEC 60216-5 abgeändert. Die diagnostischen Prüfungen, die im Festzeitrahmenverfahren Verwendung finden, sind auf destruktive Prüfungen beschränkt. Das Verfahren wurde bisher noch nicht auf zerstörungsfreie Verfahren oder Schwellenwertprüfverfahren angewendet. Gegenüber DIN EN 60216-6 (VDE 0304-26):2007-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Erläuterung der Definition der Indexeigenschaften im Vergleich zu Eigenschaften des Langzeitverhaltens; b) vollständige Überarbeitung von Anhang G und des entsprechenden Programms. Typische Anwendung dieses Dokuments ist die Bestimmung der thermischen Langzeitkennwerte, Temperaturindex (TI) und relativer Temperaturindex (RTI) eines Elektroisolierstoffs unter Verwendung des „Festzeitrahmenverfahrens“ (FTFM).
