E DIN EN IEC 62631-2-3 (VDE 0307-2-3):2024-08

Dielektrische und resistive Eigenschaften fester Elektroisolierstoffe -

Teil 2-3: Bestimmung der relativen Permittivität und des dielektrischen Verlustfaktors (Wechselspannungsverfahren) - Kontaktelektrodenverfahren für Isolierfolien (IEC 112/603/CDV:2023); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62631-2-3:2023 Teil 2-3: Bestimmung der relativen Permittivität und des dielektrischen Verlustfaktors (Wechselspannungsverfahren) – Kontaktelektrodenverfahren für Isolierfolien

Diese Internationale Norm IEC 62631-2-3 legt die Messtechnologie und das Prüfverfahren für die relative Permittivität und den dielektrischen Verlustfaktor von sehr dünnen isolierenden Polymerfolien ohne zusätzliche Schicht und Metallisierung auf der Oberfläche der Probe fest. Der anpassbare Dickenbereich liegt bei etwa 10 µm bis 100 μm. Die vorgeschlagene Frequenz ist die Netzfrequenz (50 Hz oder 60 Hz) und sie ist zudem geeignet für den technischen Frequenzbereich von 1 Hz bis 1 MHz.
Das Messen der relative Permittivität und des dielektrischen Verlustfaktors (tan δ) von sehr dünnen (etwa 10 μm bis 100 μm) isolierenden Polymerfolien ohne zusätzliche Schicht ist wichtig für Isolieranwendungen. Derzeit mangelt es an geeigneten Technologien und Normen für sehr dünne einschichtige Polymerfolien. Durch die Verwendung mehrschichtiger Polymerfolien mit 20-50 Schichten kann es möglich sein, den Mittelwert der relativen Permittivität und des dielektrischen Verlustfaktors isolierender Polymerfolien zu bestimmen, jedoch darf die Auswirkung von Luftspalten darin nicht ignoriert werden. Mit metallisierten Elektroden auf der Oberfläche der Polymerfolie können im Forschungslabor akzeptable Ergebnisse für die relative Permittivität und den dielektrischen Verlustfaktor isolierender Polymerfolien erhalten werden. In dieser Norm werden die Messtechnologie und das Prüfverfahren für die relative Permittivität und den dielektrischen Verlustfaktor von sehr dünnen isolierenden Polymerfolien ohne zusätzliche Schicht oder Metallisierung auf der Probe bei technischer Frequenz angegeben.