DIN EN IEC 63287-1:2023-09

Halbleiterbauelemente -

Allgemeine Leitlinien für die Qualifikation von Halbleitern - Teil 1: Leitlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation (IEC 63287-1:2021); Deutsche Fassung EN IEC 63287-1:2021 Allgemeine Leitlinien für die Qualifikation von Halbleitern – Teil 1: Leitlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation

Dieser Teil von IEC 63287 enthält Leitlinien für Qualifikationspläne zur Zuverlässigkeit von integrierten Halbleiter-IC-Produkten. Dieses Dokument ist nicht für Militär- und Raumfahrtanwendungen vorgesehen.

Gegenüber DIN EN 60749-43:2018-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Dokument wurde umbenannt und neu nummeriert, um es von IEC 60749 (alle Teile) zu unterscheiden;
b) ein neuer Abschnitt im Zusammenhang mit dem Konzept der Familie wurde hinzugefügt und der bestehende Text wurde entsprechend neu nummeriert.