DIN EN IEC 63373

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-

HEMT-Leistungswandlern (IEC 63373:2022); Deutsche Fassung EN IEC 63373:2022

Kurzdarstellung

ACHTUNG, DER ANKÜNDIGUNGSTEXT MUSS BEIM KONTROLLABZUG ANGEPASST WERDEN, DIES IST NUR EIN STANDARDTEXT.

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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25.03.2022 Aktuell
EN IEC 63373:2022-03
Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-HEMT-Leistungswandlern
Nahaufnahme einer Computer-Platine
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10.02.2022 Aktuell
IEC 63373:2022-02
Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-HEMT-Leistungswandlern

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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01.08.2022 Aktuell
E DIN EN IEC 63373:2022-08
Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-HEMT-Leistungswandlern (IEC 63373:2022); Deutsche Fassung EN IEC 63373:2022

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

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Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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