E DIN EN IEC 62024-1:2023-10

Induktive Hochfrequenz-

Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 51/1441/CDV:2023); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62024-1:2023 Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich

Dieser Teil von IEC 62024 legt elektrische Eigenschaften und zugehörige Messverfahren für Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich fest, die üblicherweise im Hochfrequenzbereich (über 100 kHz) eingesetzt werden.
Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments.
Gegenüber DIN EN IEC 62024-1:2019-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) S-Parameter-Messung hinzugefügt;
b) Messung des Induktivitäts-, Q-Faktor- und Impedanzwerts einer Induktivität mit dem Reflexionsfaktorverfahren mit einem Netzwerkanalysator hinzugefügt;
c) Messung der Resonanzfrequenz einer Induktivität mit einem Zweitor-Netzwerkanalysator hinzugefügt;
d) Montage einer oberflächenmontierbaren Induktivität mit bleifreiem Lot hinzugefügt.
Durch seine Anwendung erhöht das Dokument die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboratorien und Herstellern definierte Informationen für die Prüfung und erhöht die Kompatibilität der Produkte zwischen den Herstellern.

Gegenüber DIN EN IEC 62024-1:2019-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) S-Parameter-Messung hinzugefügt;
b) Messung des Induktivitäts-, Q-Faktor- und Impedanzwerts einer Induktivität mit dem Reflexionsfaktorverfahren mit einem Netzwerkanalysator hinzugefügt;
c) Messung der Resonanzfrequenz einer Induktivität mit einem Zweitor-Netzwerkanalysator hinzugefügt;
d) Montage einer oberflächenmontierbaren Induktivität mit bleifreiem Lot hinzugefügt.