Dieser Teil von IEC 61280 legt zwei Hauptverfahren zur Ermittlung von geringen Bitfehlerraten durch beschleunigte Messungen fest. Dabei handelt es sich um das Verfahren mit variabler Entscheidungsschwelle (Abschnitt 5) und das Verfahren mit variabler optischer Schwelle (Abschnitt 6). Darüber hinaus wird in Anhang B ein drittes Verfahren, das Sinus-Interferenzverfahren, beschrieben. Dieses Dokument beinhaltet die Grundlagen zur Messung, die Beschreibung des Messaufbau und die Durchführung und Auswertung der Messung. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Die Bitfehlerrate von Übertragungssystemen stellt ein Qualitätsmerkmal dar. Die Messung der BER ist daher essentiell zur Beurteilung dieser. Diese Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.
