DIN EN IEC 61724-1 (VDE 0126-25-1):2022-11

Betriebsverhalten von Photovoltaik-

Systemen - Teil 1: Überwachung (IEC 61724-1:2021); Deutsche Fassung EN IEC 61724-1:2021

Dieser Teil von IEC 61724 legt die Terminologie, die Ausrüstung und Verfahren für die Überwachung des Betriebsverhaltens und die Analyse von photovoltaischen (PV-)Systemen fest. Darüber hinaus dient er als Grundlage für weitere Normen, die sich auf die erfassten Daten stützen. Dieses Dokument legt Klassen von Systemen zur Überwachung des Betriebsverhaltens photovoltaischer (PV-)Systeme fest und dient als Anleitung für die Auswahl von Überwachungssystemen. Anhang E enthält bestimmte Einzelheiten für Systeme mit zusätzlichen Komponenten. Die PV-Modulgruppen dürfen sowohl Systeme mit feststehender Achse als auch Nachführsysteme und Flachkollektor- sowie Konzentratorsysteme umfassen. Die Ziele eines Systems zur Überwachung des Betriebsverhaltens sind verschieden und können den Vergleich des Betriebsverhaltens mit den Konstruktionserwartungen und -garantien sowie die Erkennung und Lokalisierung möglicher Fehlzustände einschließen. Der Schwerpunkt beim Vergleichen des Betriebsverhaltens mit den Konstruktionserwartungen und -garantien sollte auf Daten der Systemebene und auf der Übereinstimmung zwischen Vorhersage und Prüfverfahren liegen. Bei der Erkennung und Lokalisierung von Fehlzuständen sollte eine höhere Auflösung auf Unterebenen des Systems erfolgen und die Wiederholpräzision der Messungen und Korrelationsmetriken sollten hervorgehoben werden. Das Überwachungssystem sollte an die Größe des PV-Systems und die Nutzeranforderungen angepasst werden. Im Allgemeinen sollten größere PV-Systeme mehr Überwachungspunkte und Sensoren höherer Genauigkeit aufweisen als kleinere und kostengünstigere PV-Systeme. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich dieses Dokumentes. Gegenüber DIN EN 61724-1 (VDE 0126-25-1):2017-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die Überwachung von bifazialen Systemen wird eingeführt; b) die Anforderungen an Bestrahlungsstärkesensoren werden aktualisiert; c) die Verschmutzungsmessung wird auf Grundlage neuer Technologien aktualisiert; d) Überwachungssysteme der Klasse C entfallen; e) verschiedene Anforderungen, Empfehlungen und Erläuterungen werden aktualisiert.

Gegenüber DIN EN 61724-1 (VDE 0126-25-1):2017-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) die Überwachung von bifazialen Systemen wird eingeführt;
b) die Anforderungen an Bestrahlungsstärkesensoren werden aktualisiert;
c) die Verschmutzungsmessung wird auf Grundlage neuer Technologien aktualisiert;
d) Überwachungssysteme der Klasse C entfallen;
e) verschiedene Anforderungen, Empfehlungen und Erläuterungen werden aktualisiert.