Die Normen der Reihe DIN EN 60749 legen mechanische und klimatische Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente fest. In diesem Teil der Normenreihe wird eine Beanspruchungsprüfung festgelegt, mit der die Fähigkeit eines EEPROM-ICs oder einer integrierten Schaltung mit einem EEPROM-Modul (wie z. B. einem Mikroprozessor), sich wiederholenden Datenänderungen ohne Ausfall standzuhalten (Zyklenfestigkeit) und Daten über die zu erwartende Lebensdauer eines EEPROM zu speichern (Datenerhalt) bestimmt wird. Die Prüfung der Zyklenfestigkeit und des Datenerhalts für die Qualifikation und Überwachung wird als zerstörend betrachtet. Die Prüfungen können vom Wafer bis zum fertiggestellten Bauelement durchgeführt werden.
