E DIN EN IEC 60749-10:2023-06

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe (IEC 60749-10:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-10:2022 Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock – Bauelemente und Unterbaugruppe

Kurzdarstellung

Dieser Teil von IEC 60749 dient der Bewertung von Bauelementen in freiem Zustand und zusammengesetzt zu gedruckten Schaltungen zur Verwendung in elektrischen Geräten. Die Methode dient zur Bestimmung der Kompatibilität von Bauelementen und Unterbaugruppen, die mäßig schweren Schocks standhalten müssen. Die Verwendung von Unterbaugruppen ist ein Mittel zur Prüfung von Bauelementen unter Einsatzbedingungen, wie sie im auf Leiterplatten montierten Zustand auftreten. Mechanische Schocks durch plötzlich einwirkende Kräfte oder abrupte Bewegungsänderungen bei der Handhabung, beim Transport oder im Feldeinsatz können die Betriebseigenschaften stören, insbesondere wenn sich die Schockimpulse wiederholen. Dies ist eine zerstörende Prüfung zur Bauelementequalifizierung.
Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments.
Gegenüber DIN EN 60749-10:2003-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) umfasst sowohl freie als auch auf Leiterplatten angebrachte Komponenten;
b) Toleranzgrenzen für Spitzenbeschleunigung und Impulsdauer geändert;
c) mathematische Gleichungen für die Geschwindigkeitsänderung und die äquivalente Fallhöhe hinzugefügt.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749-10:2003-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Umfassung auf freie als auch auf Leiterplatten angebrachte Komponenten erweitert;
b) die Toleranzgrenzen für Spitzenbeschleunigung und Impulsdauer wurden geändert;
c) mathematische Gleichungen für die Geschwindigkeitsänderung und die äquivalente Fallhöhe wurden hinzugefügt.

Beziehungen

Ersatz für:

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01.04.2003 Historisch
DIN EN 60749-10:2003-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken; (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002

Enthält:

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10.06.2022 Aktuell
EN IEC 60749-10:2022-06
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - eil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe
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27.04.2022 Aktuell
IEC 60749-10:2022-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.06.2023
Bereitstellungsdatum
19.05.2023
Einspruchsfrist
19.07.2023
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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