EN IEC 60749-28:2022-04

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

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30.06.2017 Historisch
EN 60749-28:2017-06
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

Enthält:

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01.03.2022 Aktuell
IEC 60749-28:2022-03

Entwurf war:

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17.12.2021 Historisch
FprEN IEC 60749-28:2021-12
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN IEC 60749-28:2022-04

IEC 60749-28:2022-03
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
08.04.2022
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631

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Referatsassistenz
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