IEC 60749-28:2022-03

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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28.03.2017 Historisch
IEC 60749-28:2017-03
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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11.02.2022 Historisch
47/2754/RVD:2022-02

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 60749-28:2022-03
Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.03.2022
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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