EN IEC 63287-1:2021-10

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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Teil 1: Leitlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation

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Enthält:

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25.08.2021 Aktuell
IEC 63287-1:2021-08
Halbleiterbauelemente - Allgemeine Leitlinien für die Qualifikation von Halbleitern - Teil 1: Leitlinien für die LSI-Zuverlässigkeitsqualifikation

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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25.06.2021 Historisch
FprEN IEC 63287-1:2021-06
Halbleiterbauelemente – Allgemeine Leitlinien für die Qualifikation von Halbleitern – Teil 1: Leitlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN IEC 63287-1:2021-10

IEC 63287-1:2021-08
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.10.2021
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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Elektronik-Bauelemente
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