E DIN EN IEC 61189-2-808:2022-03

Händedruck von zwei Geschäftsleuten
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Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen -

Teil 2-808: Thermischer Widerstand der dielektrischen Schicht durch thermische transiente Methode (IEC 91/1690/CD:2020); Text Deutsch und Englisch

Kurzdarstellung

Dieses Dokument ist anwendbar, um den thermischen Widerstand der dielektrischen Schicht von Leiterplatten mit der thermischer Transientenmethode zu prüfen.
Mit dem verstärkten Einsatz der Hochleistungsleiterplatte, ist die Anforderung an den Ansteuerungsstrom gestiegen, was den Leistungsverbrauch erhöht hat und die Summe der der Wärmestromdichte der in diesen Geräten generiert wurde, ist gewachsen. Daher ist eine effektive Wärmeableitung zur Aufrechterhaltung einer sicheren Sperrschichttemperatur der Schlüssel, um die Wärmestromdichte für die Hochleistungsleiterplatte zu erfüllen. Der thermische Widerstand ist der entscheidende Faktor für wärmeableitende dielektrische Materialien in Hochleistungs-Leiterplatten. Daher empfehlen wir in diesem Dokument, ein thermisches Widerstandsprüfverfahren, in dem thermische transiente Eigenschaften der dielektrischen Schicht verwendet werden können, um den thermischen Widerstand in Hochleistungs-Leiterplatten zu reduzieren. Hersteller von Materialien möchten den thermischen Widerstand der dielektrischen Schicht an realen Leiterplatten messen. Zur Prüfung des thermischen Widerstands der dielektrischen Schicht bei einseitigen Leiterplatten, muss ein Prüfling mit einer Platte eines dielektrischen Materials hergestellt werden. Der Grund für die Vorbereitung eines Prüflings ist es, die Schnittstelle der dielektrischen Schicht durch Vergleich mit thermischen transienten Eigenschaften in Abhängigkeit vom thermischen Schnittstellenmaterial zu prüfen. Wie in der Abbildung dargestellt, muss die Struktur der Probe konstruiert werden. Da die Dicke der dielektrischen Schicht von den ursprünglich hergestellten Platten abhängt, muss die Dicke genau definiert sein.
Die thermische Transientenprüfvorrichtung ist ein einzigartiges Gerät zur Durchführung von Messungen an Halbleiterbauelementen wie ICs, Transistoren, Dioden usw. Die thermischen Transientenprüfvorrichtungen eignen sich am besten zur Analyse des thermischen Verhaltens, zur Bewertung von Gehäusen und befestigten Bauelementen und zur Erkennung von Defekten. Bei diesem Gerät handelt es sich um ein computergesteuertes Gerät, das mit einem PC verwendet werden kann, der eine spezielle Steuerungs- und Auswertesoftware beinhaltet. Dieses Gerät, als obligatorischer Bestandteil der Konfiguration, kann programmierte thermische Anregungen anwenden, komplexe thermische Reaktionen aufzeichnen und bietet integrierte Verfahren zur Ergebnisbewertung. Die Ergebnisse dieser Nachbearbeitungsverfahren umfassen das Puls-Thermowiderstandsdiagramm, das zeitkonstante Spektrum, den komplexen Ort der thermischen Impedanz, die Differential- und integrale Struktur- oder Profilfunktion. Die thermisch transienten Prüfgeräte können je nach Hersteller der thermischen transienten Prüfgeräte unterschiedlich sein. Der informative Anhang A beschreibt zusätzliche Prüfverfahren zur thermischen Beständigkeit. Der informative Anhang B beschreibt die thermische Beständigkeit von Matrizenbefestigungsmaterialien. Der informative Anhang C enthält die Unsicherheit und Wiederholbarkeit für thermische Widerstandsprüfung.

Beziehungen

Enthält:

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04.12.2020 Historisch
91/1690/CD:2020-12

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.03.2022
Bereitstellungsdatum
18.02.2022
Einspruchsfrist
18.04.2022
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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