prEN IEC 60749-28:2020-11

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

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20.11.2020 Historisch
47/2661/CDV:2020-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level
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EuropäischInternational

prEN IEC 60749-28:2020-11

47/2661/CDV:2020-11
??????
Dokumentart
Entwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
20.11.2020
Bereitstellungsdatum
23.11.2020
Einspruchsfrist
29.01.2021
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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