Dieser Norm-Entwurf enthält den Entwurf der Deutschen Fassung der Änderung 2:2020 zur Europäischen Norm EN 61000-4-25:2002 und ist identisch mit der Änderung 2 der Internationalen Norm IEC 61000-4-25:2001. Er sieht vor, bestimmte Toleranzangaben bei den Festlegungen für kleine Prüfeinrichtungen für HEMP-Störfestigkeitsprüfungen im Abschnitt 4.3.2 sowie für große HEMP-Simulatoren des Typ I und II in den Abschnitten 4.4.4.1 und 4.4.4.2 zu ändern.
Die IEC 61000-4-25 bzw. EN 61000-4-25 beschreibt die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen und elektronischen Geräten (Einrichtungen) und Systemen gegenüber gestrahlten impulsförmigen Störgrößen, die von einem in großer Höhe erzeugten nuklear-elektromagnetischen Impuls (HEMP) erzeugt werden. Solche hochfrequenten impulsförmigen Störgrößen können als Folge eines in großer Höhe stattfindenden nuklearen Vorfalls stattfinden, sollte es einmal nicht gelingen, diesen zu verhindern. Die Norm legt Bereiche von Prüfschärfegraden (Prüfpegeln) und Prüfverfahren zur Störfestigkeit gegen transiente leitungsgeführte und gestrahlte Störgrößen fest. Festlegungen für die Prüfeinrichtung und den Prüfaufbau der Geräte, die Durchführung der Prüfung, die Kriterien für das Bestehen/Nicht-Bestehen der Prüfung und den Prüfbericht sind in der zu ändernden Norm ebenfalls definiert.
