E DIN EN IEC 62037-8 (VDE 0887-37-8):2020-12

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Passive HF-

und Mikrowellenbauteile, Messung des Intermodulationspegels - Teil 8: Messung der passiven Intermodulation, verursacht durch Objekte, die HF-Strahlung ausgesetzt sind (IEC 46/746/CD:2019); Text Deutsch und Englisch

Kurzdarstellung

Dieser Teil von IEC 62037 legt eine Prüfung der gestrahlten passiven Intermodulation (PIM) zur Bestimmung von PIM-Pegeln fest, die durch ein Gerät oder Objekt erzeugt wird, wenn es HF-Strahlung ausgesetzt ist. Diese Prüfung kann an jedem Werkstoff oder Objekt durchgeführt werden und ist nicht auf Geräte beschränkt, die für die Verbreitung von HF-Signalen entworfen wurden. Diese Prüfung kann entweder als Nahfeld- oder als Fernfeldprüfung ausgeführt werden, wie durch die Prüfspezifikation definiert.

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
25.10.2019 Historisch
46/746/CD:2019-10

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.12.2020
Bereitstellungsdatum
06.11.2020
Einspruchsfrist
06.01.2021
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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