DIN EN IEC 62024-1:2019-02
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Induktive Hochfrequenz-
Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 62024-1:2017); Deutsche Fassung EN IEC 62024-1:2018
Kurzdarstellung
Diese Norm legt die elektrischen Eigenschaften und zugehörigen Messmethoden für Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich fest, die üblicherweise im Hochfrequenzbereich (über 100 kHz) verwendet werden. Die wesentliche Änderung gegenüber der vorherigen Ausgabe dieser Norm ist die Ergänzung der Spannungsabfallmethode zur Messung des Gleichstromwiderstands.
Zuständig ist das DKE/K 625 "Magnetische Bauelemente und deren Komponenten" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
Zuständig ist das DKE/K 625 "Magnetische Bauelemente und deren Komponenten" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 62024-1:2008-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Die Spannungsabfallmethode zur Messung des Gleichstromwiderstands wurde hinzugefügt;
b) die technischen Begriffe wurden vereinheitlicht.
a) Die Spannungsabfallmethode zur Messung des Gleichstromwiderstands wurde hinzugefügt;
b) die technischen Begriffe wurden vereinheitlicht.
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Ersatz für:
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Dieses Dokument entspricht:
| National | Europäisch |
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