IEC 60749-13:2018-02

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 13: Salzatmosphäre

Beziehungen

Ersatz für:

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26.04.2002 Historisch
IEC 60749-13:2002-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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12.01.2018 Historisch
47/2455/RVD:2018-01

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 60749-13:2018-02
Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
15.02.2018
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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