DIN EN 62321-4 (VDE 0042-1-4):2018-05

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Verfahren zur Bestimmung von bestimmten Substanzen in Produkten der Elektrotechnik -

Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mit CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS (IEC 62321-4:2013 + A1:2017); Deutsche Fassung EN 62321-4:2014 + A1:2017

Kurzdarstellung

Die Internationale Normenreihe IEC 62321 stellt Prüfverfahren zur Verfügung, die es der elektrotechnischen Industrie ermöglichen, die Konzentration bestimmter bedenklicher Stoffe in elektrotechnischen Produkten auf einer weltweit einheitlichen Grundlage zu bestimmen. Teil 4 der Normenreihe beschreibt Prüfverfahren für Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mit CV-AAS (Kaltdampf-Atomabsorptionsspektrometrie), CV-AFS (Kaltdampf-Atomfluoreszenzspektrometrie), ICP-OES (optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma) und ICP-MS (Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma).
Diese Berichtigung soll zum einen Missverständnisse der Leser mit der Anwendung des Grenzwertes der Wellenlänge in Anhang A (informativer Abschnitt) aufheben, zum anderen das Problem der Matrix-Effekte in Lampen-Komponenten besser beschreiben. Denn insbesondere die Phosphor-Komponenten hängen von Lampen ab. Daher ist es erforderlich, dass analytische Experten ihre Matrixeffekte oder Störeffekte selbst untersuchen.
Zuständig ist das DKE/K 135 "Erfassung von Stoffen in Produkten der Elektrotechnik" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
Zuständig ist das DKE/K 135 "Erfassung von Stoffen in Produkten der Elektrotechnik" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 62321-4 (VDE 0042-1-4):2014-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Strukturelle, inhaltliche und redaktionelle Überarbeitung der DIN EN 62321 (VDE 0042-1):2009-12, Abschnitt 7 und Anhang E;
b) Ergänzung der direkten Analyse von Quecksilber ohne vorherigen Probenaufschluss durch Gold-Amalgamierung;
c) Überarbeitung der Aussagen zur Präzision in Abschnitt 10 auf Basis der weiteren Daten aus der internationalen Laborvergleichsstudie IIS 4;
d) Ergänzung des Abschnittes 10 zur Qualitätssicherung und -kontrolle;
e) Ergänzung des Anhanges B mit einer Darstellung der Ergebnisse der internationalen Laborvergleichsstudien IIS 2 und IIS 4.

Beziehungen

Ersatz für:

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01.10.2014 Historisch
DIN EN 62321-4 (VDE 0042-1-4):2014-10
Verfahren zur Bestimmung von bestimmten Substanzen in Produkten der Elektrotechnik - Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mit CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS (IEC 62321-4:2013); Deutsche Fassung EN 62321-4:2014

Enthält:

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17.11.2017 Aktuell
EN 62321-4:2014/A1:2017-11
Verfahren zur Bestimmung von bestimmten Substanzen in Produkten der Elektrotechnik - Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mit CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.05.2018
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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