E DIN EN 60512-23-3 (VDE 0687-512-23-3):2017-07

Elektrisch-

mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-3: Prüfung 23c: Schirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör (IEC 48B/2559/CD:2017)

Dieser Teil der DIN EN 60512 (VDE0687-512) legt ein Standardverfahren für die Messung der Schirmwirkung von Steckverbindern mit oder ohne Zubehör fest, die mit einem angeschlossenen Kabel versehen sind. Solch ein Einrichtung muss eine rundherum reichende ununterbrochene Schirmungsfähigkeit über ihre gesamte Länge aufweisen.
Es können mit diesem Prüfverfahren Rundsteckverbinder, Rechtecksteckverbinder, Steckverbinder für Leiterplatten sowie Steckverbinderzubehör geprüft werden:
Dieses Prüfverfahren basiert auf dem Prinzip, dass das eigentliche Schirmungsvermögen der Steckverbinder bzw. des Zubehörs oder der Kabeleinrichtung deren Oberflächen-Transferimpedanz ZT ist, die als Längsspannung im Schirm im Verhältnis zum Stromfluss auf der Außenseite des Gehäuses ausgedrückt werden kann.
Diese Prüfung ist auch für die Messung der Schirmwirkung eines Steckverbinders geeignet, der mit dreipoligen Kontakten und geschirmten, verdrillten Leiterpaaren bestückt ist, wie sie in Datenbussystemen verwendet werden.
Die wesentlichen Änderungen gegenüber DIN EN 60512-23-3:2001 bestehen in der Aktualisierung von verwendeten Begriffen und normativen Verweisungen, redaktionellen Überarbeitungen der gesamten Texte einschließlich des Titels des Dokuments.
Zuständig ist das DKE/K 651 "Steckverbinder" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Gegenüber DIN EN 60512-23-3:2001-11, DIN EN 60512-23-3 Berichtigung 1:2012-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Anpassung des Titels an den derzeitigen Aufgabenbereich von IEC/SC 48B;
b) ausdrücklicher Hinweis auf das Paralleldrahtverfahren zur Messung der Transferimpedanz hinzugefügt;
c) normative Verweisungen geändert auf IEC 62153-4-6:2006;
d) Symbole SE für die Schirmwirkung und ZT für die Oberflächen-Transferimpedanz im gesamten Dokument hinzugefügt;
e) Verschiebung der Liste der Steckverbinder, für die das Prüfverfahren anwendbar ist, in den Anwendungsbereich;
f) Änderung des Begriffs "Dielektrizitätskonstante" in den Begriff "relative Permittivität";
g) Verwendung des Begriffs „Steckverbindergehäuse“ [IEV 581-27-10] anstelle von "Mantel" zur Berücksichtigung der Steckverbindervorrichtung, die als Abschirmung dient;
h) Ergänzung einer erläuternden Anmerkung zum besseren Verständnis der Gleichung zur Berechnung von SE anhand von ZT;
i) Änderung des früheren Namens der Organisation AECMA in den derzeitigen Namen ASD-STAN;
j) Anpassung der Abschnittsstruktur an die aktuellen ISO/IEC-Direktiven, Teil 2;
k) redaktionelle Überarbeitungen des englischen Textes, wie auch der deutschen Übersetzung.