E DIN EN 60068-2-82 (VDE 0468-2-82):2017-05

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Umgebungseinflüsse -

Teil 2-82: Prüfungen - Prüfung XW1: Whisker-Prüfverfahren für elektronische und elektrische Bauelemente (IEC 91/1422/CD:2017)

Kurzdarstellung

Dieser Teil von IEC 60068 legt Prüfungen für die Neigung zur Whiskerbildung von Oberflächen von elektrischen oder elektronischen Bauteilen und mechanischen Teilen, wie z. B. Stanzteile (Rangierpaare, Abschirmungen gegen elektrostatische Entladung, mechanische Befestigungen, Einpressstifte und andere mechanische Teile zum Herstellen einer elektrischen Verbindung) mit einer Oberflächenbeschichtung aus Zinn oder einer Zinnlegierung (die Veränderung der Maße der Vergussmasse, des Kunststoffs usw. während der erforderlichen Prüfungen wird nicht bewertet) fest.
Whisker ist ein metallischer Auswuchs, der bei der Lagerung oder der Anwendung spontan wächst.
Whisker erfordern für ihr Wachstum normalerweise kein elektrisches Feld und dürfen nicht mit Produkten elektrochemischer Migration verwechselt werden. Typische Eigenschaften von Whiskern sind Rillen in der Wachstumsrichtung, für gewöhnlich keine Verzweigungen, für gewöhnlich konstante Durchmesser. Ausnahmen sind bekannt, aber selten und können eine genauere Untersuchung erfordern. Für die Zwecke dieser Norm werden Whisker angesehen, wenn sie ein Seitenverhältnis (Länge/Breite) von größer als 2 haben, sie eine Länge von 10 µm oder mehr haben. Für die Zwecke dieser Norm haben Whisker die Eigenschaften dass sie abgeknickt, gebogen oder verdreht werden können; sie normalerweise eine einheitliche Querschnittsform haben, sie Ringe um den Umfang der Säule haben können. Whisker dürfen nicht mit Dendriten verwechselt werden, die einen farnähnlichen Wuchs auf der Oberfläche eines Materials haben und die aus Elektro(chemischer)migration von ionischen Elementen oder während der Verfestigung entstehen können.
Diese Norm und die beschriebenen Prüfungen können auch für Unterlieferanten, wie Beschichtungsbetriebe, Stanzbetriebe oder andere Dienstleister verwendet werden, um dem Anwender eine einheitliche Oberflächenbeschaffenheit zu liefern, damit Schwachstellen im Hinblick auf das Whiskerwachstum innerhalb der Lieferkette erkannt werden. Dieses Prüfverfahren wird von einer zutreffenden Spezifikation (Bauteil- oder Anwendungsspezifikation) für darin behandelte Bauteile mit festgelegten Annahmekriterien verwendet. Diese Prüfungen gelten für die Erstqualifikation, Änderungen der Technologie oder von Herstellungsprozessen bei bestehenden Oberflächen nach Kapitel 9 und der Überwachung nach Kapitel 7. Die Passfläche von Steckverbindern ist von diesem Prüfverfahren nicht abgedeckt (IEC 60512-16-21 gilt für die Passfläche von Steckverbindern).
Diese Ausgabe enthält die folgenden wesentlichen technischen Änderungen in Bezug auf die frühere Ausgabe:
- Erweiterung des Anwendungsbereichs der Prüfnorm von elektronischen zu elektromechanischen Bauteilen und Einpressstiften.
- Erhebliche Reduzierung des Prüfaufwands durch eine wissensbasierte Auswahl der Prüfabschnitte, was bedeutet, dass Prüfungen, die für ein bestimmtes Materialsystem nicht relevant sind, ausgelassen werden können.
- Harmonisierung mit JEDS 201A durch Auslassung der Prüfschärfen M und N für die Temperaturwechselprüfungen.
Zuständig ist das DKE/K 682 "Aufbau- und Verbindungstechnik für elektronische Baugruppen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60068-2-82:2007-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Erweiterung des Anwendungsbereichs der Prüfnorm von elektronischen zu elektromechanischen Bauteilen und Einpressstiften.
b) Erhebliche Reduzierung des Prüfaufwands durch eine wissensbasierte Auswahl der Prüfabschnitte, was bedeutet, dass Prüfungen, die für ein bestimmtes Materialsystem nicht relevant sind, ausgelassen werden können.
c) Harmonisierung mit JEDS 201A durch Auslassung der Prüfschärfen M und N für die Temperaturwechselprüfungen.
d) Stark reduzierte Prüfdauer (1 000 h anstelle von 4 000 h) der Feuchteprüfung durch Einführung einer beschleunigten Prüfung bei erhöhter Luftfeuchtigkeit von 85 %.

Beziehungen

Ersatz für:

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01.12.2007 Historisch
DIN EN 60068-2-82:2007-12
Umgebungseinflüsse - Teil 2-82: Prüfungen - Prüfung Tx: Whisker-Prüfverfahren für elektronische und elektrische Bauelemente (IEC 60068-2-82:2007); Deutsche Fassung EN 60068-2-82:2007

Enthält:

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06.01.2017 Historisch
91/1422/CD:2017-01

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.05.2017
Bereitstellungsdatum
07.04.2017
Einspruchsfrist
07.06.2017
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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