FprEN 60749-3:2016-12

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung Teil 3: Äußere Sichtprüfung

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Enthält:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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23.12.2016 Historisch
47/2345/FDIS:2016-12
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung - Teil 3: Äußere Sichtprüfung

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

FprEN 60749-3:2016-12

47/2345/FDIS:2016-12
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Dokumentart
Schlussentwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
23.12.2016
Zuständiges Gremium
DKE/K 631

Kontakt

Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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