Die Normenreihe DIN EN 60749 legt eine Reihe von Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente fest, mit denen die mechanische oder klimatische Widerstandsfähigkeit dieser Bauelemente bewertet werden kann. Das in diesem Dokument vorgeschlagene Prüfverfahren wird zur Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier angegebenen Lebensdauer-Prüfverfahren mit konstanter Temperatur, Feuchte und elektrischer Spannungsbeanspruchung angewendet. Wenn sowohl dieses Prüfverfahren mit konstanter Feuchte und mit elektrischer Spannungsbeanspruchung als auch das hochbeschleunigende Beanspruchungs-Prüfverfahren (HAST) nach IEC 60749-4 durchgeführt werden, haben die Ergebnisse dieser Langzeitprüfung bei 85 °C/85 % RF (relative Feuchte) Vorrang vor denen der HAST-Prüfung, die eine zeitraffende Prüfung und dadurch gekennzeichnet ist, dieselben Ausfallmechanismen zu aktivieren.
Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
