DIN EN 62132-1 (VDE 0847-22-1):2016-09

Blitze im Nachthimmel
valdezrl / Fotolia

Integrierte Schaltungen -

Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 62132-1:2015); Deutsche Fassung EN 62132-1:2016

Kurzdarstellung

Die Messungen der eingespeisten Spannungen und Ströme - in Verbindung mit dem Antwortverhalten der unter geregelten Bedingungen geprüften integrierten Schaltungen (IC) - liefern für einen bestimmten Anwendungsfall Informationen über die mögliche Störfestigkeit eines IC gegen leitungsgeführte und eingestrahlte hochfrequente-Störgrößen.

In diesem Dokument werden allgemeine Bedingungen beschrieben, die erforderlich sind, um gleichbleibende quantitative Messungen der Störfestigkeit von IC zu erhalten. Zu erwartende kritische und die Messergebnisse beeinflussende Parameter werden in diesem Dokument beschrieben. Abweichungen von diesem Dokument sind im entsprechenden Messprotokoll zu beschreiben. Die Messergebnisse können sowohl für Vergleichs- als auch andere Zwecke verwendet werden.

Dieser Teil von IEC 62132 liefert allgemeine Informationen und Definitionen zur Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit integrierter Schaltungen gegen leitungsgeführte und eingestrahlte Störgrößen. Dieser Teil gibt auch eine Beschreibung der Messbedingungen, der Messeinrichtung und des spezifischen Mess-Aufbaus sowie der Messverfahren und des Inhalts der Messprotokolle. In Anhang A sind Tabellen zum Vergleich der Messverfahren, die in den anderen teilen dieser Normenreihe festgelegt sind, angegeben, um die Wahl des entsprechenden Messverfahrens zu unterstützen.
Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 62132-1:2006-06 und DIN EN 62132-1 Berichtigung 1:2007-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Aufnahme in das VDE-Vorschriftenwerk als Messverfahren für die elektromagnetische Störfestigkeit;
b) Wegfall der Beschränkung auf den Frequenzbereich 150 kHz bis 1,5 GHz und entsprechende Änderung von Titel und Anwendungsbereich;
c) die Festlegungen für Frequenzschritte wurden um entsprechende Frequenzbereiche ergänzt;
d) Vervollständigung und Aktualisierung bezüglich der in der Normenreihe inzwischen festgelegten Messverfahren;
e) die IC-Störfestigkeit wird nun nach den IC-Leistungsklassen eingeteilt;
f) Vervollständigung und Aktualisierung der Tabellen zum Vergleich der Messverfahren im Anhang A;
g) Festlegungen für PGA und BGA-Anschlüsse wurden aufgenommen;
h) das Dokument wurde redaktionell komplett überarbeitet.

Beziehungen

Ersatz für:

Blitze im Nachthimmel
valdezrl / Fotolia
01.06.2006 Historisch
DIN EN 62132-1:2006-06
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 62132-1:2006); Deutsche Fassung EN 62132-1:2006
Blitze im Nachthimmel
valdezrl / Fotolia
01.02.2007 Historisch
DIN EN 62132-1 Berichtigung 1:2007-02
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 62132-1:2006); Deutsche Fassung EN 62132-1:2006, Berichtigungen zu DIN EN 62132-1:2006-06; CENELEC-Corrigendum November 2006 zu EN 62132-1:2006

Enthält:

Blitze im Nachthimmel
valdezrl / Fotolia
26.02.2016 Aktuell
EN 62132-1:2016-02
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe
Blitze im Nachthimmel
valdezrl / Fotolia
29.10.2015 Aktuell
IEC 62132-1:2015-10
ntegrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe

Entwurf war:

Blitze im Nachthimmel
valdezrl / Fotolia
01.11.2012 Historisch
E DIN EN 62132-1 (VDE 0847-22-1):2012-11
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 47A/888/CD:2012)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.09.2016
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung