DIN IEC/TS 62804-1 (VDE V 0126-37-1):2017-05

Standards
putilov_denis / Fotolia

Photovoltaik(PV)-

Module - Prüfverfahren für die Erkennung von spannungsinduzierter Degradation - Teil 1: Kristallines Silicium (IEC/TS 62804-1:2015)

Kurzdarstellung

In diesem Teil von IEC 62804 werden Verfahren für die Prüfung und die Bewertung der Dauerhaftigkeit von photovoltaischen (PV-)Modulen mit kristallinem Silizium gegen die Auswirkungen von kurzzeitigen Hochspannungsbeanspruchungen einschließlich der spannungsinduzierten Degradation (PID) festgelegt. Die zwei festgelegten Prüfverfahren werden als Sortierprüfungen angegeben - keine der Prüfungen enthält alle Faktoren, die in der natürlichen Umgebung vorkommen und welche die PID-Rate beeinflussen können. Die Verfahren beschreiben, wie ein konstantes Beanspruchungsniveau erreicht wird.
Die Prüfung in dieser Technischen Spezifikation ist für PV-Module mit kristallinem Silizium mit einer oder zwei Glasoberfläche(n) ausgelegt, sie ist nicht für die Bewertung von Modulen mit Dünnschicht-Technologien, Tandem- oder Heterostruktur-Zellen vorgesehen.
Die tatsächliche Dauerbeständigkeit der Module gegen Beanspruchungen mit der Systemspannung wird von den Umgebungsbedingungen abhängen, unter denen sie betrieben werden. Die Prüfungen sind dafür vorgesehen, die Empfindlichkeit der PV-Module gegen PID ungeachtet der wirklichen Beanspruchungen zu bewerten, unter denen sie in verschiedenen Klimaten und Systemen im Betrieb sind.
Zuständig ist das DKE/K 373 "Photovoltaische Solarenergie-Systeme" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

Standards
putilov_denis / Fotolia
06.08.2015 Aktuell
IEC TS 62804-1:2015-08
Photovoltaik(PV)-Module – Prüfverfahren für die Erkennung von spannungsinduzierte Degradation - Teil 1: Kristallines Silicium

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
01.10.2013 Historisch
E DIN EN 62804 (VDE 0126-37):2013-10
Systemspannungsbeständigkeit-Befähigungsprüfung für kristalline Silicium-Module (IEC 82/768/CD:2013)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Vornorm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.05.2017
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dominika Radacki
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

u53z4z1r.8rurt1zQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-249

Referatsassistenz
Monika Bergmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

354z1r.sv8x3r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-272

DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung