Mikrowellenschaltungen werden im Allgemeinen auf organischen oder nicht organischen Mehrlagensubstraten gefertigt. In den Mikrowellenschaltungen wird die Dämpfung von planaren Übertragungsleitungen, z. B. Streifenleitungen, Mikrostreifenleitungen und Koplanarleitungen, durch ihre Leiterverluste, dielektrischen Verluste und Strahlungsverluste bestimmt. Dabei spielen die Leiterverluste eine wesentliche Rolle bei der Dämpfung der planaren Übertragungsleitungen.
In diesem Dokument wird ein neues Messverfahren zur Bewertung der Leitfähigkeit einer Übertragungsleitung auf oder in den Trägern, z. B. organischen, keramischen oder LTCC-(Niedertemperatur-Einbrand-Keramik-)Trägern, festgelegt. Diese Norm beschreibt ein Messverfahren für den Widerstand und die effektive Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger, die als Grenzflächenwiderstand bzw. Grenzflächenleitfähigkeit bezeichnet werden.
In IEC 61338-1-3 wird das Messverfahren für den Oberflächenwiderstand und die effektive Leitfähigkeit auf der Leiteroberfläche beschrieben. Die Leitfähigkeit wird in dieser Norm als Oberflächenleitfähigkeit bezeichnet. In dieser Norm wird ein Verfahren zur Messung des Widerstands und der effektiven Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger, die als Grenzflächenwiderstand bzw. Grenzflächenleitfähigkeit bezeichnet werden, beschrieben.
Bei Übertragungsleitungen in den Trägern konzentriert sich der elektrische Strom an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger, da die Eindringtiefe in den Leiter bei Mikrowellenfrequenzen im μm-Bereich liegt. In Mikrostreifenleitungen konzentriert sich der elektrische Strom eher an der Grenzfläche als an der äußeren Fläche des Leiters. Zudem weist die Grenzflächenseite der Kupferfolie in kupferkaschierten organischen Trägermaterialien eine raue Struktur auf, um eine gute Haftfestigkeit zu gewährleisten. In LTCC-Trägern hat die Grenzfläche zwischen Leiter und Keramik, in Abhängigkeit vom Einbrandverfahren und von der Materialzusammensetzung, eine raue Struktur. Die Leiterverluste hängen von den Grenzflächenbedingungen ab.
Die IEC 61338 mit dem allgemeinen Titel "Waveguide type dielectric resonators" umfasst die folgenden Teile:
- Part 1: Generic specification
- Part 1-3: General information and test conditions - Measurement method of complex relative permittivity for dielectric resonator materials at microwave frequency
- Part 1-4: General information and test conditions - Measurement method of complex relative permittivity for dielectric resonator materials at millimeter-wave frequency
- Part 2: Guidelines for oscillator and filter applications
- Part 4: Sectional specification
- Part 4-1: Blank detail specification
Zuständig ist das DKE/K 642 "Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
