DIN EN 61189-2-721:2016-03

Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen -

Teil 2-721: Prüfverfahren für Materialien für Verbindungsstrukturen - Messung der relativen Permittivität und des Verlustfaktors von kupferkaschiertem Laminat im Mikrowellen-Frequenzbereich unter Verwendung eines Split Post dielektrischen Resonators (IEC 61189-2-721:2015); Deutsche Fassung EN 61189-2-721:2015

Die Norm beschreibt beschreibt eine Methode zur Bestimmung der relativen Permittivität und des Verlustfaktors von kupferkaschierten Laminaten im Mikrowellen-Frequenzbereich von 1,1 GHz bis 20 GHz unter Verwendung eines Split Post dielektrischen Resonators (SPDR, en: split post dielectric resonator). Dieses Verfahren gilt für die Messung von kupferkaschierten Laminaten und dielektrischen Basismaterialien.
((Bild 2))
Im Bild ist das Komponentendiagramm des Prüfsystems dargestellt. Der Frequenzbereich des Vektor-Netzwerkanalysators muss 500 MHz bis 20 GHz betragen. Der Dynamikbereich des Vektor-Netzwerkanalysators muss mehr als 60 dB betragen.
((Bild A.1))
Das Bild zeigt eine SPDR-Prüfeinrichtung mit einer Nennfrequenz von 5 GHz. Für den Anschluss des Koaxialkabels an die SPDR-Prüfeinrichtung ist ein 3,5-mm-Buchse-zu-Buchse-Adapter zu verwenden. Zur Einstellung des Kopplungskoeffizienten ist die SPDR-Prüfeinrichtung an beiden Enden mit je einer Koppelschleife versehen. Die maximale Dicke des Prüflings beträgt bei dieser Prüfeinrichtung 2 mm.
Zuständig ist das DKE/K 682 "Montageverfahren für elektronische Baugruppen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.