E DIN EN 61189-2-719:2015-02

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Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen -

Teil 2-719: Prüfverfahren für Leiterplatten und Materialien für Baugruppen - Relative Permittivität und Verlustfaktor (500 MHz bis 10 GHz) (IEC 91/1215/CD:2014)

Kurzdarstellung

Diese Norm legt ein Prüfverfahren für die relative Permittivität und den Verlustfaktor von Leiterplatten und Materialien für Baugruppen fest, bei denen die voraussichtlichen zu bestimmenden Werte für die relative Permittivität 2 bis 10 und für den Verlustfaktor 0,001 bis 0,050 im Frequenzbereich von 500 MHz bis 10 GHz betragen.
Die Prüflinge sind kupferkaschierte Laminate. Die Prüflinge müssen im Abstand von mindestens 25 mm von der Kante der Tafel geschnitten sein, mindestens vier Prüflinge müssen geprüft werden.
Der Prüfsatz besteht aus zwei Platten. Platte A ist eine Platte, die auf einer Seite mit einer Leiterbahn und auf der anderen Seite mit einer Kupferfolie versehen ist. Platte B ist eine Platte, deren eine Seite ohne Kupferfolie ist und deren andere Seite mit einer Kupferfolie versehen ist. Platte A und Platte B sind aus den Prüflingen gefertigt. Für die
Konstruktion des Prüfsatzes wird die Kupferfolie auf dem kupferkaschierten Laminat geätzt.
Die elektrischen Messungen sind unter Verwendung des Vektor-Netzwerkanalysator (VNA) und der Prüfeinrichtung durchzuführen. Die Messbedingungen wie Frequenz, Messpunkt, Mittelungszahl und
Glättungsgrad sind am VNA einzustellen. Die Anzahl der verwendeten Datenpunkte muss hinreichend groß sein, um die Amplitude der Resonanzspitzen genau zu erfassen. Die Mittelung kann so
eingestellt werden, dass das Signal-Rausch-Verhältnis verbessert wird. Der VNA ist im Messfrequenzbereich mit einem Koaxialkabel zu kalibrieren. Eine vollständige Zweitor-Kalibrierung ist
erforderlich. Nach Abschluss der Messung wird aus den gewonnenen Daten die relative Permittivität und der Verlustfaktor berechnet.
Der Prüfbericht muss u. a. folgende Angaben Prüfnummer und Revision, Bezeichnung und Beschreibung des geprüften Materials, relative Permittivität und Durchschnittswert bei der Prüffrequenz, Verlustfaktor und Durchschnittswert bei der Prüffrequenz enthalten.
Zuständig ist das DKE/K 682 "Montageverfahren für elektronische Baugruppen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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03.10.2014 Historisch
91/1215/CD:2014-10

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.02.2015
Bereitstellungsdatum
16.01.2015
Einspruchsfrist
16.03.2015
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

ur4zv2.wrz2v8QAuv.t53

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

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