IEC 62047-21:2014-06

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik

Beziehungen

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia
23.05.2014 Historisch
47F/189/RVD:2014-05

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62047-21:2014-06

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
19.06.2014
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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