Dieser Teil der DIN EN 61788 beschreibt ein Messverfahren zur Bestimmung des Verhältnisses von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von Cu/Nb3Sn-Drähten.
Das hier angegebene Messverfahren ist anzuwenden auf Nb3Sn-Verbundsupraleiterdrähte mit einer Querschnittsfläche von 0,1 qmm bis 3 qmm und einem Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von 0,1 und größer. Das Verfahren berücksichtigt nicht den Durchmesser der Filamente; jedoch ist es nicht anzuwenden auf supraleitende Drähte, in denen die Filamente, Sn, CuSn, Barrierenmaterial, sowie andere Nicht-Kupfer-Anteile in der Kupfermatrix verteilt sind, oder auf solche mit verteiltem Stabilisierungsmaterial. Außerdem kann das Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen an den Drahtproben vor oder nach der Wärmebehandlung zur Ausbildung der Nb3Sn-Phase bestimmt werden.
Der Cu/Nb3Sn-Draht hat eine monolithische Struktur mit rundem oder rechteckigem Querschnitt.
Dieses Verfahren kann, obwohl sich die Messunsicherheit erhöht, angewandt werden zur Messung des Verhältnisses von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von Cu/Nb3Sn-Drähten, deren Querschnitt und Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen außerhalb der spezifizierten Bereiche liegen.
Dieses Messverfahren kann, mit entsprechenden Modifikationen, für andere Verbundsupraleiterdrähte angewandt werden.
Zuständig ist das DKE/K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.