DIN EN 61788-16 (VDE 0390-16):2013-11

Supraleitfähigkeit -

Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-16:2013); Deutsche Fassung EN 61788-16:2013

Der Gegenstand dieses Dokuments umfasst die Beschreibung des Standard-Messverfahrens des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach der Saphirresonator-Methode. Messgröße ist die Leistungsabhängigkeit dieses Widerstandes bei der Resonanzfrequenz.
Die folgenden geeigneten Messbereiche zur Bestimmung der Oberflächenwiderstände für diese Methode sind:
Frequenzen bis max. 10 GHz
Eingangs-Mikrowellenleistung kleiner als 37 dBm (5 W)
Die Angaben des Oberflächenwiderstandes bei der gemessenen Frequenz und die auf 10 GHz skalierten Werte sind zum Vergleich anzugeben.
Zuständig ist das DKE/K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.