Dünnschicht-Elektronikbauelemente aus organischen Nanomaterialien haben viele attraktive Eigenschaften, z. B. sind sie sehr leicht und flexibel, und der Herstellungsprozess benötigt keine hohen Temperaturen und ist sehr preiswert. Dieser Typ von elektronischen Bauelementen ist ausführlich sowohl in Forschungseinrichtungen als auch in Industrielaboren untersucht worden. Eine der potentiellen Anwendungen dieser Technologien ist die Herstellung von flexibler und aufrollbarer Elektronik. Es wird erwartet, dass Dünnschichttransistoren, die auf organischen Halbleitermaterialien beruhen und deswegen organische Dünnschicht(=Film)Transistoren genannt werden (OTFTs), in organischen Elektrolumineszenz-Displays zur Ansteuerung der organischen lichtemittierenden Dioden in den Pixeln Verwendung finden werden. Die OTFTs sind auch vielversprechende Kandidaten für molekulare Nanoelektronik.
Im Hinblick auf die zukünftige Entwicklung ist es dringend erforderlich, zuverlässige Charakterisierungsmethoden für die Transporteigenschaften in Dünnschichtmaterialien mit Dicken im Nanometerbereich zu entwickeln, diese existieren bisher nicht.
In dieser Technischen Spezifikation wird eine standardisierte Probengeometrie für die Charakterisierung der Transporteigenschaften von organischen/Nano-Dünnschicht-Bauelementestrukturen vorgeschlagen. Der Zweck dieser Technischen Spezifikation ist, standardisierte Teststrukturen für die Bestimmung der Transporteigenschaften von Ladungsträgern in organischen Dünnschichtbauelementen zu definieren. Dabei werden sowohl die Anforderungen an belastbare Daten zum Ausgangsmaterial für die OTFTs definiert als auch Richtlinien für die Herstellung der Teststrukturen aufgestellt. Im Ergebnis werden damit der Forschung in Industrie und in akademischen Institutionen Informationen transparent und konsistent zur Verfügung gestellt.
Zuständig ist das DKE/K 141 "Nanotechnologie" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
