E DIN EN 60679-1:2013-08

Oszillatoren aus piezoelektrischen und verwandten Materialien mit bewerteter Qualität -

Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 49/1051/CD:2013)

Dieser Teil von IEC 60679 legt die Prüfverfahren und allgemeinen Anforderungen für qualitätsbewertete Oszillatoren aus piezoelektrischen und verwandten Materialien fest, wobei entweder das Befähigungsanerkennungs- oder das Bauartanerkennungsverfahren angewendet wird. Im Abschnitt Begriffe und allgemeine Angaben werden die notwendigen Begriffe eingeführt, die bevorzugte Werte für Bemessungswerte und Eigenschaften beschreiben und die Kennzeichnung. Der Abschnitt Qualitätsbewertungsverfahren erläutert, dass für die Anerkennung von Oszillatoren mit Qualitätsbewertung zwei Verfahren anwendbar sind. Diese sind die Bauartanerkennung und die Befähigungsanerkennung. Die primäre Fabrikationsstufe für Oszillatoren ist nach IECQ 03-3, C.2.1, bei Oszillatoren mit einem Resonator der Zusammenbau des Oszillators, bei Oszillatoren mit einem nicht verschlossenen Resonator die Fertigstellung der Resonatoroberfläche zusätzlich zum Zusammenbau des Oszillators. Die Gruppierung baulich ähnlicher Oszillatoren zum Zweck der Bauartanerkennung, der Befähigungs¬anerkennung und der Qualitäts-Konformitätsprüfung muss in der entsprechenden Rahmenspezifikation angegeben werden. Das Verfahren der Untervergabe muss IECQ 03-2, 8.5, und IECQ 03-3, 8.12, entsprechen. Nach dem Einbau des Resonators in die Oszillatorschaltung ist keine Untervergabe erlaubt, es sei denn, es werden verschlossene Resonatoren eingesetzt. Hier ist die Untervergabe für das Verschließen des Oszillatorgehäuses erlaubt. Wenn das Endprodukt Bauelemente enthält, die durch eine Fachgrundspezifikation in der IEC-Reihe abgedeckt sind, müssen diese unter Verwendung der IEC-Freigabeverfahren hergestellt werden. Wenn die eingegliederten Bauelemente keiner IEC-Bauartspezifikation unterliegen, muss der Hauptprüfer des anerkannten Herstellers die Qualität der Bauelemente überprüfen unter Verwendung einer Beschaffungsspezifikation, die alle notwendigen Anforderungen enthält, um ihre zufriedenstellende Qualität als Teil des Endprodukts sicherzustellen bzw. eines entsprechenden Anerkennungs-Prüfprogramms, das einen Bericht der Ergebnisse enthält. Weitere Schwerpunkte sind u. a. die Herstelleranerkennung, das Anerkennungsverfahren, die Befähigungsanerkennung, die Bauartanerkennung, das Verfahren zur Befähigungsanerkennung, das Verfahren zur Bauartanerkennung, das Prüfverfahren, Anforderungen zu Sortierungen, Nacharbeit und Reparatur. Für nicht geprüfte Parameter gilt, dass nur die Parameter eines Bauelementes, die in der Bauartspezifikation angegeben sind und überprüft wurden, als in den angegebenen Grenzen liegend angenommen werden können. Es darf nicht angenommen werden, dass ein nicht angegebener Parameter bei zwei Bauelementen gleich ist. Sollte es notwendig werden, weitere Parameter zu überprüfen, dann muss eine neue ausführlichere Bauartspezifikation angewendet werden. Die zusätzlichen Prüfverfahren müssen vollständig beschrieben werden und die entsprechenden Grenzen, AQLs und Prüfniveaus sind anzugeben.
Der normative Anhang A enthält Belastungsschaltungen für Logik-Betrieb, wie TTL und Schottky, CMOS, ECL und LVDS. Der normative Anhang B beschreibt die Prüfung des Latch-Up-Effektes. Bei der Prüfung des Latch-Up-Effektes unter statischen Bedingungen wird ein Bauteil höheren Beanspruchungen ausgesetzt, als es üblicherweise im Normalbetrieb anzutreffen ist, und unter schärferen Prüfbedingungen geprüft als bei dynamischen Prüfverfahren, die ähnliche Werte Stromstärke und Spannung verwenden. Diese Prüfung ist, falls sie nach den in dieser Norm festgelegten Verfahren durchgeführt wird, ein notwendiges und ausreichendes Verfahren für die Bestimmung der Empfindlichkeit oder Störfestigkeit von CMOS-IC-Oszillatoren gegenüber dem Latch-Up-Effekt.
Der normative Anhang C beschreibt die Klassifizierung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen. Anhang D enhält die Literaturhinweise.
Zuständig ist das DKE/K 642 "Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Gegenüber DIN EN 60679-1:2008-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Alle Abschnitte wurden unter Berücksichtigung des gesamten Inhalts der vorherigen Ausgabe entsprechend den aktuellen Anforderungen an Form und Gestaltung überarbeitet.