EN 62276:2013-01

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Einkristall-

Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

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01.12.2005 Historisch
EN 62276:2005-12
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Enthält:

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19.10.2012 Historisch
IEC 62276:2012-10
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente – Festlegungen und Messverfahren

Entwurf war:

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03.08.2012 Historisch
FprEN 62276:2012-08
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren
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26.06.2015 Historisch
FprEN 62276:2015-06
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62276:2013-01

IEC 62276:2012-10
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
11.01.2013
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 642
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

ur4zv2.wrz2v8QAuv.t53

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

Themen

Elektronik-Bauelemente
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