E DIN EN 60904-8 (VDE 0126-4-8):2012-11

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Photovoltaische Einrichtungen -

Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit einer photovoltaischen (PV)-Einrichtung (IEC 82/732/CDV:2012); Deutsche Fassung FprEN 60904-8:2012

Kurzdarstellung

Dieser Teil der IEC 60904 enthält eine Anleitung für die Messung der spektralen Empfindlichkeit von linearen und nichtlinearen photovoltaischen (PV) Einrichtungen. Sie gilt nur für Einrichtungen mit Einschichtsolarzellen.
Die spektrale Empfindlichkeit einer photovoltaischen Einrichtung wird für die Korrektur der spektralen Fehlanpassung benutzt, wenn eine Solarzelle in einem Spektrum, das vom Referenzspektrum abweicht, und gegen eine Referenzeinrichtung mit einer anderen spektralen Empfindlichkeit kalibriert wird.
Außerdem wird die spektrale Empfindlichkeit einer photovoltaischen Einrichtung für die Entwicklung und Bewertung von Zellen angewendet, da sie ein Maß für die Rekombination und andere innerhalb des Halbleiters oder des Zellenwerkstoffsystems auftretende Prozesse darstellt.
Zuständig ist das DKE/K 373 „Photovoltaische Solarenergie-Systeme“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60904-8:1998-11 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Aktualisierung der normativen Verweisungen;
b) Neufassung des Abschnitts über die Prüfungen;
c) Aufnahme eines neuen Abschnitts für die Messung von in Reihe geschalteten Modulen;
d) ergänzte Anforderungen an den Prüfbericht nach ISO/IEC 17025;
e) Ergänzung zusätzlicher Bildern.

Beziehungen

Ersatz für:

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01.11.1998 Historisch
DIN EN 60904-8:1998-11
Photovoltaische Einrichtungen - Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit einer photovoltaischen (PV) Einrichtung (IEC 60904-8:1998); Deutsche Fassung EN 60904-8:1998

Enthält:

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22.06.2012 Historisch
FprEN 60904-8:2012-06
Photovoltaische Einrichtungen - Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit einer photovoltaischen (PV)-Einrichtung
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22.06.2012 Historisch
82/732/CDV:2012-06
Photovoltaische Einrichtungen - Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit einer photovoltaischen (PV)-Einrichtung

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.11.2012
Bereitstellungsdatum
12.11.2012
Einspruchsfrist
19.01.2013
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dominika Radacki
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

u53z4z1r.8rurt1zQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-249

Referatsassistenz
Monika Bergmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

354z1r.sv8x3r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-272

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