IEC TS 62686-1:2012-09

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Luftfahrtelektronik-

Prozessmanagement - Elektronische Bauelemente für Anwendungen der Luft- und Raumfahrt, der Verteidigung und erhöhter Anforderungen (ADHP) Teil 1: Allgemeine Anforderungen für hohe Zuverlässigkeit integrierter Schaltkreise und Einzelhalbleiter

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22.06.2012 Historisch

107/184/RVC:2012-06

Ersetzt bzw. ergänzt:

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22.04.2015 Historisch

IEC TS 62686-1:2015-04

Luftfahrtelektronik-Prozessmanagement - Elektronische Bauelemente für Anwendungen der Luft- und Raumfahrt, der Verteidigung und erhöhter Anforderungen (ADHP) - Teil 1: Allgemeine Anforderungen für hohe Zuverlässigkeit integrierter Schaltkreise und Einzelhalbleiter