IEC 62047-14:2012-02

Standards
putilov_denis / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 14: Verfahren zur Ermittlung der Grenzformänderung metallischer Dünnschichtwerkstoffe

Beziehungen

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
10.02.2012 Historisch
47F/118/RVD:2012-02

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62047-14:2012-02

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
28.02.2012
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung