47F/113/CDV:2011-12

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 11: Prüfverfahren für lineare thermische Ausdehnungskoeffizienten für freistehende Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Beziehungen

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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02.12.2011 Historisch
47F/100A/CC:2011-12

Dieses Dokument entspricht:

International

47F/113/CDV:2011-12
Dokumentart
Komiteeentwurf zur Abstimmung
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
23.12.2011
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631

Kontakt

Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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