E DIN IEC 62276:2009-10

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Einkristall-

Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Kurzdarstellung

Diese Internationale Norm gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat-(LN-), Lithiumtantalat-(LT-), Lithiumtetraborat-(LBO-)Kristallen und Lanthanum-Gallium-Silikat (LGS), die für die Verwendung als Substrate bei der Herstellung von Oberflächenwellen-(OFW-)Filtern und Resonatoren vorgesehen sind.

Zuständig ist das K 642 „Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
D. Hinterwäller

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 62276:2006-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Die Abfolge der Begriffe wurde überarbeitet.
b) Die Benennung „reduziertes LN (reduced LN)“ wird zu den Begriffen hinzugefügt.
c) Die Benennung „reduziertes LT (reduced LT)“ wird zu den Begriffen hinzugefügt.
d) Die Benennung „Reduktionsvorgang“ wird zu den Begriffen hinzugefügt.