E DIN EN 60749-21:2009-10

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 21: Lötbarkeit

Kurzdarstellung

In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Standard-Prüfverfahren zur Bestimmung der Lötbarkeit von Anschlüssen der Bauelementegehäuse, welche dazu bestimmt sind, bei der Bauelementemontage mit anderen Oberflächen durch die Verwendung von Zinn-Blei-Loten (SnPb-Loten) oder bleifreien Loten (Pb-free-Loten) verbunden zu werden, festgelegt.
Bei diesem Prüfverfahren ist einerseits mit der Prüfart „Tauchen einschließlich einer Sichtprüfung („Dip-and-Look“)“ eine Prüfart für die Lötbeanspruchung sowohl für oberflächenmontierbare Bauelemente (SMD, en: surface mounted devices) als auch für Bauelemente mit Anschlüssen in axialer oder THT-Ausführung (THT, en: through-hole-technology; de: Durchsteck-Montagetechnologie) festgelegt, und andererseits ist eine optionale Prüfart für die Lötbeanspruchung von auf einer Leiterplatte montierten SMD festgelegt, um damit den Lötprozess, so wie er bei der Bauelementeanwendung verwendet wird, simulieren zu können. Für dieses Prüfverfahren sind auch optionale Bedingungen für ein beschleunigtes Altern festgelegt.
Gegenüber DIN EN 60749-21:2005-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Festlegungen bezüglich der Rückwärtskompatibilität des Prüfverfahrens für bleifreie Lötverbindungen wurden hinzugefügt.
b) Die Bedingungen für die Tauchlöt-Beanspruchung wurden entsprechend in Tabelle 3 ergänzt.
c) Die Abschnittsnummerierung wurde entsprechend angepasst und einige redaktionelle Veränderungen vorgenommen.

Zuständig ist das K 631 „Halbleiterbauelemente“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Th. B. Lieber

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749-21:2005-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Festlegungen bezüglich der Rückwärtskompatibilität des Prüfverfahrens für bleifreie Lötverbindungen wurden hinzugefügt (siehe 3.1).
b) Die Bedingungen für die Tauchlöt-Beanspruchung wurden entsprechend ergänzt (Tabelle 3).
c) Die Abschnittsnummerierung wurde entsprechend angepasst.
d) ANMERKUNG 3 in Abschnitt1 wurde gestrichen.

Beziehungen

Enthält:

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04.09.2009 Historisch
FprEN 60749-21:2009-09
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren --Teil 21: Lötbarkeit
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04.09.2009 Historisch
47/2025/CDV:2009-09
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit

Entwurf war:

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01.06.2005 Historisch
DIN EN 60749-21:2005-06
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit (IEC 60749-21:2004); Deutsche Fassung EN 60749-21:2005

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.10.2009
Bereitstellungsdatum
19.10.2009
Einspruchsfrist
31.12.2009
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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