Dieser Norm-Entwurf enthält die Deutsche Fassung des Entwurfs zur Überarbeitung der Europäischen Norm EN 61000-4-20 und bzw. der Internationalen Norm IEC 61000-4-20, wobei die beiden diesbezüglichen Internationalen Norm-Entwürfe mit den Dokumentennummern IEC 77B/582/CDV und IEC 77B/583/CDV zu einem geschlossenen Entwurf zusammengefasst wurden. Der Norm-Entwurf beschreibt die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder in TEM-Wellenleitern, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) zu Grunde gelegt werden. Hierbei wird die Messung der Störaussendung im normativen Anhang A und die Prüfung der Störfestigkeit im normativen Anhang B spezifiziert. Prüfungen mit HEMP-Transienten werden im normativen Anhang C beschrieben. Die in diesem Entwurf betrachteten Wellenleiter beinhalten offene (z. B. Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen), die wiederum in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können. Informationen, die der Charakterisierung von Wellenleitern dienen, werden im Anhang D bereitgestellt. Der nutzbare Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters ab. Prüflinge, die im TEM-Wellenleiter geprüft werden sollen, müssen klein sein und es dürfen keine Leitungen an sie angeschlossen sein.
Gegenüber der vorhergehenden Ausgabe wurde u. a. die Norm umstrukturiert und die Abschnitte 7 bis 9 sowie ein neuer Anhang E zur Kalibrierung von Feldsonden wurden ergänzt.
Zuständig sind die UK 767.3 „Hochfrequente Störgrößen“ und UK 767.4 „Geräte und Verfahren zum Messen von elektromagnetischen Aussendungen“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE. Die Federführung liegt beim UK 767.3.
Bretz