E DIN EN 60749-27:2005-05

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine-Model (MM)

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14.01.2005 Historisch

prEN 60749-27:2005-01

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14.01.2005 Historisch

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01.09.2002 Historisch

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) (IEC 47/1624/CDV:2002); Deutsche Fassung prEN 60749-27:2002

Dieses Dokument entspricht:

National	Europäisch	International
E DIN EN 60749-27:2005-05	prEN 60749-27:2005-01	47/1804/CDV:2005-01

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Enthält:

prEN 60749-27:2005-01

47/1804/CDV:2005-01

Entwurf war:

E DIN EN 60749-27:2002-09

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