E DIN IEC 60747-16-10:2001-11

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Halbleiterbauelemente Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise

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20.07.2001 Historisch
47E/197/CD:2001-07

Dieses Dokument entspricht:

NationalInternational

E DIN IEC 60747-16-10:2001-11

47E/197/CD:2001-07
Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.11.2001
Bereitstellungsdatum
01.11.2001
Einspruchsfrist
31.12.2001
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/UK 631.1
Kontakt
Referat
Elena Rongen
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

v2v4r.854xv4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-429

Referatsassistenz
Ewa Amrhein
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

vBr.r38yvz4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-370

Themen

Mikroelektronik
Normung + Standardisierung
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