E DIN IEC 47(Sec)1227:1991-10

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Halbleiterbauelemente; Ergänzung der IEC 60749 klimatisch mechanische Prüfungen; Neuer Abschnitt 7: Mechanische Prüfungen für SMD-

Bauelemente; Identisch mit IEC 47(Sec)1227

Beziehungen

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01.08.1991 Historisch

Halbleiterbauelemente; Ergänzung der IEC 60749: Grobleck-Prüfverfahren; Identisch mit IEC 47(CO)1169

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01.08.1991 Historisch

Halbleiterbauelemente; Änderung der IEC 60749; Sichtprüfung nach dem Verschließen; Identisch mit IEC 47(CO)1170

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01.09.1987 Historisch

Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Identisch mit IEC 60749, Ausgabe 1984

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01.08.1991 Historisch

Halbleiterbauelemente; Dichtheitsprüfung Q<(Index)K> für Halbleiterbauelemente; Identisch mit IEC 47(CO)1186

National

Entwurf

Historisch

01.10.1991

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Deutsch

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