E DIN IEC 47(CO)1252:1992-07

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01.10.1991 Historisch

E DIN IEC 47(Sec)1227:1991-10

Halbleiterbauelemente; Ergänzung der IEC 60749 klimatisch mechanische Prüfungen; Neuer Abschnitt 7: Mechanische Prüfungen für SMD-Bauelemente; Identisch mit IEC 47(Sec)1227

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01.09.1987 Historisch

DIN IEC 60749:1987-09

Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Identisch mit IEC 60749, Ausgabe 1984

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E DIN IEC 47(CO)1252:1992-07

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Historisch

01.07.1992

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